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    賽默飛Apreo掃描電鏡隔振方案-ARISMD主動隔振系統

    賽默飛Apreo S掃描電鏡主動隔振系統

    ArisMD300主動隔振系統

    ARISMD主動隔振系統廣泛應用于賽默飛電鏡,ThermoFisfer賽默飛球差矯正透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛掃描電鏡、ThermoFisfer賽默飛聚焦離子束FIB.....

    精密振動控制助力賽默飛電鏡實現最精密測試、實現納米級成像


    背       景:應用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡成像檢測,是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。

    使用單位:廈門稀土材料研究所

    地      點:福建省廈門市集美區兌山西珩路258號

    儀器型號:FEI Apreo S LoVac

    隔振方案:ArisMD300主動隔振系統


    ARISMD300主動隔振臺.jpg

    廈門稀土研究所賽默飛Spreo S SEM01.jpg

    FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動隔振系統應用安裝圖


    成像測試:


    Spreo S SEM成像圖01.jpg

    Spreo S SEM成像圖02.png


    Apreo S 電鏡掃描圖像65萬倍對比(安裝ArisMD300前后)

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